ゲート長 vs. ゲート遅延（リング・オシレータで測定した）
ピン数 vs. 試作値段
ゲート数 vs. 試作値段
以下の図面は東京大学VDECが各チップ試作プロセスに対する測定結果を基づいて作成しました。
ゲート長 vs. ゲート遅延（リング・オシレータで測定した）
ピン数 vs. 試作値段
ゲート数 vs. 試作値段
| 品種 | ゲート遅延 [ps] | ゲート長 | 信号ピン数 | ゲート規模数 | 試作値段 [千円] |
| Hitachi 0.35um 5.9mm角 | 45 | * | 190 | 143k | 506 |
| Rohm 0.35um 4.9mm角 | 100 | ** | 111 | 180k | 375 |
| Rohm 0.6um 3.9mm角 | 152 | *** | 74 | 27k | 160 |
| Rohm 0.6um 4.6mm角 | 152 | *** | 87 | 42k | 240 |
| Rohm 0.6um 8.9mm角 | 152 | *** | 159 | 205k | 950 |
| HHS 0.5um 2.3mm角 | 171 | **** | 28 | 4k | 166.75 |
| HHS 0.5um 4.8mm角 | 171 | **** | 76 | 40k | 747.5 |
| Motorola 1.2um 2.3mm角 | 224 | ***** | 34 | 4k | 66.5 |
| Motorola 1.2um 4.8mm角 | 224 | ***** | 83 | 32k | 230 |
| Motorola 1.2um 7.3mm角 | 224 | ***** | 131 | 82k | 451 |