SoCテストシステム

SoCテストシステム アドバンテスト社 T2000 VDEC号機

1. T2000 ハードウェア：Digital I/O チャネル仕様
2. T2000 ハードウェア：Device Power Supply 仕様
3. T2000 ソフトウェア概要
4. T2000 ソフトウェア・コンセプト
5. T2000 ソフトウェア構成
6. T2000 GUIツール・デバッグ環境

1-1 T2000 ハードウェア：Digital I/O チャネル仕様

Digital IO チャネル:	384 (32ch x 12 Modules)
Functional Test Speed:	250MHz(Normal Rate Mode)
	500MHz(Double Rate Mode)
	667Mbps(Double Rate Mode: Driver Only)
Pattern Generators:	128M word (MAIN)/256M word(SCAN)
Multiple Time Domain:	24 domains (2domains per each Digital Module)
Pin Electronics:	-2V to +6V Drive/Compare Range
VPP(Hign V Channel):	13V, ±100mA Maximum Output
Other Features:	Scan Test, Mrmory Test, Multiple Time Domain, High Voltage Pin,etc.

1-2 T2000 ハードウェア：Device Power Supply 仕様

Device Power Supply:	24ch (8ch x 3 Modules)
Voltage Source:	-2V to +6V at 4A maximum output
	-2V to +8V at 1A maximum output
Measurement Range:	±5μA, 50μA, 500μA, 5mA, 50mA, 500mA, 4A
Dynamic Load Regulation:	60mA at Δi = 2A, CL = 2000μF
	100mA at Δi = 2A, CL = 200μF
Ganging:	2 to 64 supplies (256A maximum)

1-3 T2000 ソフトウェア概要

• オープンなSoftware開発環境

  基本OS: Windows

  開発環境: MS Visual Studio .NET

• 新規モジュール追加の拡張性
• アルゴリズムの再利用

  テストデータとアルゴリズムの分離

• 充実したツール環境

1-4 T2000 ソフトウェア・コンセプト

1-5 T2000 ソフトウェア構成

1-6 T2000 GUIツール・デバッグ環境

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