SoCテストシステム アドバンテスト社 T2000 VDEC号機

  1. T2000 ハードウェア:Digital I/O チャネル仕様
  2. T2000 ハードウェア:Device Power Supply 仕様
  3. T2000 ソフトウェア概要
  4. T2000 ソフトウェア・コンセプト
  5. T2000 ソフトウェア構成
  6. T2000 GUIツール・デバッグ環境

1-1 T2000 ハードウェア:Digital I/O チャネル仕様

Digital IO チャネル: 384 (32ch x 12 Modules)
Functional Test Speed: 250MHz(Normal Rate Mode)
500MHz(Double Rate Mode)
667Mbps(Double Rate Mode: Driver Only)
Pattern Generators: 128M word (MAIN)/256M word(SCAN)
Multiple Time Domain: 24 domains (2domains per each Digital Module)
Pin Electronics: -2V to +6V Drive/Compare Range
VPP(Hign V Channel): 13V, ±100mA Maximum Output
Other Features: Scan Test, Mrmory Test, Multiple Time Domain, High Voltage Pin,etc.

1-2 T2000 ハードウェア:Device Power Supply 仕様

Device Power Supply: 24ch (8ch x 3 Modules)
Voltage Source: -2V to +6V at 4A maximum output
-2V to +8V at 1A maximum output
Measurement Range: ±5μA, 50μA, 500μA, 5mA, 50mA, 500mA, 4A
Dynamic Load Regulation: 60mA at Δi = 2A, CL = 2000μF
100mA at Δi = 2A, CL = 200μF
Ganging: 2 to 64 supplies (256A maximum)

1-3 T2000 ソフトウェア概要

1-4 T2000 ソフトウェア・コンセプト

1-5 T2000 ソフトウェア構成

1-6 T2000 GUIツール・デバッグ環境



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