総合精度 | 5um |
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適合ウエーハサイズ | Φ4”Φ5”Φ6”Φ8” |
XY各軸プローブエリア | ±120mm |
XY各軸速度 | 200mm/sec |
Z軸ストローク | 34mm |
Z軸速度 | 35ms/0.5mmストローク |
θ軸回転角度 | ±5° |
ウェーハのアラインメント | CCD ITVカメラ方式;パターンマッチング法にて行う |
ローダ容量 | 1カセット25枚ウェーハ |
ウェーハの搬送方式 | アーム搬送 裏面吸着 |
ニードルクリーニング方式 | ステージ式 |
ロジックテスター及びデジダルアナライザーとの接続 | 可能 |
GP-IBとの接続I/F | 本体に含む |
液晶ティスプレー及びタッチパネル | 10インチカラーディスプレイにてタッチ操作 |
ステージヒートアップ機構 | エアークール |
温度設定範囲 | 15℃〜200℃ |
繰り返し精度 | 0.5℃以下 |
温度設定単位 | 1℃ |
温度制御 | 25℃から160℃:20分以内 |
自動針合わせ機構 | 付き |
自動針高さ合わせ機構 | 付き |
テスター用カード及び同軸プローブヘッド | 本体に含む |
常温仕様のΦ341mmロジックテスター用プローブカード基板 | 1式付属 |
常温仕様の6ピンプローブカード | 1式付属 |
200℃で対応可能なデジタルアナライザー用同軸プローブへッド | 6個 |
接続ケーブルSMA→BNC、SMA→トライアキシャル変換コネクタ | 付属 |
真空ポソプ装置及びエアークールコンプレッサー | 付属 |
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