| 主催 | 東京大学大規模集積システム設計教育研究センター(VDEC) |
| 後援 | 株式会社アドバンテスト |
| 協賛 | (社)電子情報通信学会 (社)情報処理学会 IEEE SSCS Japan Chapter (社)電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究会 (社)電子情報技術産業協会 その他、各団体に協賛依頼中 |
| 参加費 | 無料 |
株式会社アドバンテストからの寄附金による「アドバンテストD2T寄附研究部門」が東京大学大規模集積システム設計教育研究センター内に設立され、約1年が経過いたしました。この1年間の研究成果の報告ならびにLSIのテスト分野で活躍されている著名な研究者の招待講演を企画致しました。
本シンポジウムでは、本研究部門の研究成果報告のみではなく、国内外の産学界から著名な研究者の招待講演を企画しておりますので、多くの方の参加をお待ちしております。
| 13:00 | 開会の挨拶 |
| 13:10 | 招待講演(1) |
| Built-In Soft Error Resilience for Robust System Design Subhasish Mitra (Stanford University) |
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| High Quality Delay Testing for Logic Circuits Seiji Kajihara (Kyusyu Institute of Technology) |
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| The Quest for Wireless Testing and the HOY System Cheng-Wen Wu (SOC Technology Center, ITRI) |
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| 14:40 | 休憩 |
| 15:00 | 招待講演(2) / D2T活動報告 |
| A Test Solution for Low Power Design Takashi Aikyo (STARC) |
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| Test and Reliability of Nanoscale Electronic Systems: Next-Generation Solutions
for Next-Generation Bernd Becker (University of Freiburg) |
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| Activities of Advantest D2T Research Division in VDEC Satoshi Komatsu (University of Tokyo) |
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| 16:30 | 休憩 |
| 16:50 | D2T研究報告 |
| Pseudo-Functional Testing for Reducing Test Overkill and Escape Tim Cheng (University of Tokyo / University of California, Santa Barbara) |
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| Challenge for Improvement of Test Coverage in Deep Submicron LSI Yasuo Furukawa (Advantest Corporation) |
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| Targeting Leakage Constraints during ATPG - and Some Remarks on the Collaboration between Bremen and Tokyo - Goerschwin Fey (Bremen University / University of Tokyo) |
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| 18:20 | 閉会の挨拶 |
| 18:30 | 懇親会 |
東京大学 大規模集積システム設計教育研究センター アドバンテストD2T寄附研究部門
〒113−0032 東京都文京区弥生2−11−16 武田先端知ビル404号室
Tel: 03-5841-0233 FAX: 03-5841-1093
E-mail: komatsu@vdec.u-tokyo.ac.jp
VLSI Design and Education Center (VDEC), The University of Tokyo