東京大学VDEC D2Tシンポジウム2009

2009年12月11日(金) 10:00-18:00 (懇親会18:00-)
東京大学　武田先端知ビル　5階　武田ホール

更新情報：
・諸事情により、Eli Singerman氏(Intel Haifa)の講演がZurab Khasidashvili氏(Intel Haifa)に変更になりました。

主催	東京大学大規模集積システム設計教育研究センター(VDEC)
後援	株式会社アドバンテスト
協賛	(社)電子情報通信学会 IEEE SSCS Japan Chapter (社)電子情報技術産業協会 (社)情報処理学会東京大学グローバルCOE「セキュアライフ・エレクトロニクス」
参加費	無料

株式会社アドバンテストからの寄附金による「アドバンテストD2T寄附研究部門」が東京大学大規模集積システム設計教育研究センター内に設立され、約2年が経過いたしました。本寄附研究部門の最近の研究成果の報告ならびにLSIのテスト分野で活躍されている著名な研究者の招待講演を企画致しました。
本シンポジウムでは、本研究部門の研究成果報告のみではなく、国内外の産学界から著名な研究者の招待講演を企画しておりますので、多くの方の参加をお待ちしております。

参加申込（参加費：無料）

こちらからお申し込みください。

アクセス方法

こちらをご覧ください。

シンポジウムプログラム (英語版, English version)

10:00	開会の挨拶
10:10	D2T寄付研究部門紹介
10:20	招待講演(1)
	Test's Changing Role in the Late-Silicon Era Tim Cheng (University of California, Santa Barbara)
	IFRA: Instruction Footprint Recording and Analysis for Post-Silicon Validation of Robust Systems Subhasish Mitra (Stanford University)
11:50	昼食
13:00	招待講演(2)
	Testing of 3D Integrated Circuits: Challenges and Emerging Solutions Krishnendu Chakrabarty (Duke University)
	Issues and Challenges of Analog Circuit Testing in Mixed-Signal SOC Haruo Kobayashi (Gunma University)
14:30	休憩
15:00	D2T活動報告
	A Characteristic Function Based Method for Identifying a Deterministic Jitter Model in a Total Jitter Distribution Takahiro Yamaguchi (Advantest Corporation)
	Signature-Based Testing for Adaptive Mixed-Signal Systems Mohamed Abbas (University of Tokyo)
16:00	休憩
16:30	招待講演(3)
	Manufacturing Test of Nanometer Integrated Circuits Shawn Blanton (Carnegie Mellon University)
	On Compositional Observational Equivalence Checking of Hardware Zurab Khasidashvili (Intel Haifa)
18:00	懇親会

お問い合わせ

東京大学大規模集積システム設計教育研究センターアドバンテストD2T寄附研究部門
〒113－0032　東京都文京区弥生2－11－16　武田先端知ビル404号室
Tel: 03-5841-0233 FAX: 03-5841-1093
E-mail: komatsu@vdec.u-tokyo.ac.jp