更新情報:
・ホームページを開設しました。(2013/6/28)
・参加申込受付を開始しました。(2013/7/16)
主催 | 東京大学大規模集積システム設計教育研究センター(VDEC) |
後援 | 株式会社アドバンテスト |
協賛 | (社) 電子情報通信学会 (社) 情報処理学会 (社) 電子情報技術産業協会 IEEE SSCS Japan Chapter LSIテスティング学会 (社) パワーデバイス・イネーブリング協会 |
参加費 | 無料 |
東京大学大規模集積システム設計教育研究センターでは、株式会社アドバンテストからの寄附による「アドバンテストD2T寄附研究部門」において、"D2T
(Design-to-Test)"の理念に基づき、「設計」と「テスト」の橋渡しを目的とした研究・教育活動を行なっています。このたび、本寄附研究部門の最近の活動報告、ならびに、LSIの回路設計、テスト技術などの分野で活躍されている研究者の招待講演による「D2Tシンポジウム」を開催いたします。
本シンポジウムでは、招待講演として、スイス連邦工科大学ローザンヌ校のGiovanni De Micheli教授によるサイバーフィジカルシステムに関する講演、PDF
Solutions Inc.のChief Technologistで、米国カーネギーメロン大学のAndrzej Strojwas教授による歩留り向上のためのテスト・設計方法論に関する講演、米国ワシントン大学のMani
Soma教授による、ミクストシグナルデバイスのテスト技術に関する講演を予定しています。また、"Challenges and Solutions
for Future LSI Systems and Testing"と題したパネルディスカッションを企画しています。
回路設計、テスト技術を含む幅広い講演を予定しており、皆様の研究・開発の一助となるようなシンポジウムを目指しています。多くの皆様の御参加をお待ちしています。
こちらからお申し込みください。
http://www.vdec.u-tokyo.ac.jp/d2t/registration/d2tsymposium2013-regist.html
http://www.vdec.u-tokyo.ac.jp/Guide/access.html
10:00 | 開会の挨拶 |
東京大学 大規模集積システム設計教育研究センター長 浅田 邦博 | |
株式会社アドバンテスト 代表取締役会長 丸山 利雄 | |
10:10 | Session 1 |
Technologies and Platforms for Cyberphysical Systems (45 min.) Prof. Giovanni De Micheli (Ecole Polytechnique Federale de Lausanne) |
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Test and Design-for-Testability Solutions for 2.5D/3D Integrated Circuits (45 min.) Prof. Krishnendu Chakrabarty (University of Tokyo / Duke University) |
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Activities of VDEC Advantest D2T Research Division (25 min.) Prof. Satoshi Komatsu (University of Tokyo) |
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12:05 | 昼食 |
13:20 | Session2 |
Universal Methodology for Yield Enhancement of ULSIC's Employing Product Test, IC Layout and Comprehensive Suite of Characterization Vehicles (45 min.) Prof. Andrzej Strojwas (Carnegie Mellon University / PDF Solutions, Inc.) |
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Signal and Noise: A Radical Perspective on Mixed-Signal Test Research and
Education (45 min.) Prof. Mani Soma (University of Washington) |
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A Stochastic Sampling Time-to-Digital Converter (25 min.) Dr. Takahiro J. Yamaguchi (Advantest Laboratories) |
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15:15 | 休憩 |
15:40 | Session 3 |
Synthesis from Oracles (45 min.) Prof. Subash Shankar (University of Tokyo / City University of New York) |
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Layout Design for Practical Application of Electron-Beam Lithography with
Character Projection Technique (25 min.) Dr. Rimon Ikeno (University of Tokyo) |
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Introduction of Multi-Purpose EB Lithography system F7000S (10 min.) Mr. Masahiro Takizawa (Advantest) |
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17:00 | Panel Discussion "Challenges and Solutions for Future LSI Systems and Testing" (80 min.) Moderator: Prof. Krishnendu Chakrabarty (University of Tokyo / Duke University) Panelists: Prof. Andrzej Strojwas (Carnegie Mellon University / PDF Solutions, Inc.) Prof. Giovanni De Micheli (Ecole Polytechnique Federale de Lausanne) Prof. Mani Soma (University of Washington) Dr. Takahiro J. Yamaguchi (Advantest Laboratories) |
18:20 | 閉会 |
18:20 | 懇親会 |
東京大学 大規模集積システム設計教育研究センター アドバンテストD2T寄附研究部門
〒113−0032 東京都文京区弥生2−11−16 武田先端知ビル404号室
Tel: 03-5841-0233 FAX: 03-5841-1093
E-mail: komatsu@vdec.u-tokyo.ac.jp
VLSI Design and Education Center (VDEC), The University of Tokyo