東京大学 第15回 D2Tシンポジウム

2020年9月17日(木)
オンライン開催

(英語版, English page)

更新情報：

・シンポジウムのホームページを開設しました。(2020/7/13)
・シンポジウムのホームページを更新しました。(2020/7/17)
・シンポジウムのホームページを更新しました。(2020/7/26)
・シンポジウムのホームページを更新しました。(2020/8/09)
・参加申し込みを開始しました。(2020/8/10)
・9/18 D2T特別セミナーホームページ(英語)を開設しました。(2020/9/06)
・ありがとうございました。(2020/9/17)

主催 東京大学大学院工学系研究科附属システムデザイン研究センター (d.lab)
後援 株式会社アドバンテスト
協賛 一般社団法人 電子情報通信学会 (IEICE)
一般社団法人 情報処理学会 (IPSJ)
IEEE SSCS Japan Chapter
IEEE SSCS Kansai Chapter
応用物理学会　集積化ＭＥＭＳ技術研究会
ナノテスティング学会 (INANOT)
一般社団法人 電子情報技術産業協会 (JEITA)
一般社団法人 日本半導体製造装置協会 (SEAJ)
SEMI ジャパン
一般社団法人 パワーデバイス・イネーブリング協会 (PDEA)
計測エンジニアリングシステム株式会社(KESCO)
参加費 無料

英語。英日同時通訳あり。

シンポジウムの概要

主催者より：

東京大学　システムデザイン研究センター(d.lab)は、2019年10月に大規模集積システム設計教育研究センターの改組により発足しました。また、同時に株式会社アドバンテストによるご厚意により「アドバンテストD2T寄附研究部門」は「アドバンテストD2T寄附講座」になりました。 "D2T (Design-to-Test)"の理念に基づき、「設計」と「テスト」の橋渡しを目的とした研究・教育活動を行なっています。 その一環として開催して参りました「D2Tシンポジウム」の第15回目の開催を下記の通りご案内申し上げます。
今回のシンポジウムでは、国内外から著名な招待講演者として米国ノースカロライナ州立大学のBrian Floyd教授、米国カリフォルニア大学サンディエゴ校のAlex Orailoglu教授、旭化成エレクトロニクス株式会社の岩崎剛志様、奈良先端科学技術大学院大学の新谷道広先生、株式会社EVALUTOおよび群馬大学の畠山一実先生、東大d.labの小林正治先生、株式会社アドバンテストの田村亮様をお招きし、最新の研究についての貴重な講演を頂く予定です。
皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。

同時開催（無料）：
9月16日（水）午後1時30分～　COMSOL MEMS セミナー　ご清聴ありがとうございました。
9月18日（金）午後1時～　D2T 特別セミナー

第15回D2Tシンポジウムに合わせまして、9月18日（金）午後に無料セミナーを開催いたします。D2Tシンポジウムの申し込みサイトから同時に申し込みができますが、個別に申し込みも可能です。合わせてご登録ください。
詳細な内容につきましてはリンクよりご確認ください。どうぞよろしくお願いいたします。

シンポジウム講演アブストラクト (英語版, English version)

9:50

Opening remarks

東京大学大学院工学系研究科システムデザイン研究センター(d.lab)　センター長　黒田　忠広　教授
株式会社アドバンテスト　代表取締役　兼　執行役員社長　吉田　芳明　様 　　　

　　　

10:00

Session 1 - Special Lecture I

"Beamforming Arrays and their Test and Calibration"
Brian Floyd, Professor (North Carolina State University, Raleigh, NC)

アブストラクト
ミリ波システムは、形状のためのビームフォーミングや利得向上や干渉を減少させるために偏向することで信頼されている。本発表では、ビームフォーミングのフロントエンドの概要と、望みのパターンを実現するための要件について説明する。続いて、アンテナがパッケージ化されている際に最適な応答を得るために、様々なアンテナアレイで使用可能なcode-modulated built-in self-testと校正技術について詳細な発表をおこなう。

"Adaptive Test Pattern Construction for Hardware Trojan Detection"
Alex Orailoglu, Professor (University of California, San Diego)

アブストラクト
As society becomes increasingly reliant on products and systems that make use of integrated circuits, the defense against potential hardware Trojan attacks by an untrusted foundry becomes an important part of any certification flow for critical components. While there have been many recent proposals, they fall short by either requiring impractical design/test pattern cost or achieving insufficient detection capabilities, primarily challenged by the noise induced by process variation. We put forth a methodology to remedy this, leveraging an adaptive approach which applies superposition to perform a fine-grained circuit analysis and expose any existing Trojan circuitry. Iterative test pattern modifications, circuit response analysis, and adaptive decision-making are deployed, all working within the design-for-test and test pattern cost paradigms of a common industrial circuit. We demonstrate the efficacy of this technique on the standard combinational Trust-Hub Trojan benchmark circuits, showing significant improvement over prior techniques. This methodology provides a reliable and effective means for Trojan detection, covering an important piece of the overall circuit certification puzzle.

"The Solution of Testing the Millimeter-Wave (76- to 81- GHz) without Expensive Instruments"
岩﨑　剛志　様 (旭化成エレクトロニクス株式会社)

アブストラクト
ここ10年、自動車産業は急成長を遂げています。ブレーキアシスト機能や衝突回避機能は、私たちの命を守り救ってくれている。車載レーダ用のモノリシックミリ波集積回路（MMIC）は重要なコンポーネントである。しかしながら、MMICの製造試験には高価な機器が必要である。本講演では高価な測定器を使わずに80GHzの波を測定する方法を紹介する。

12:00

Lunch break

13:00

Session 2 - Special Lecture II

"Recycled FPGA detection using exhaustive fingerprinting characterization"
新谷　道広　先生 (奈良先端科学技術大学院大学)

アブストラクト
現在、使用されたFPGAが新品として市場に流出することが社会的な課題となっている。本発表では、網羅的にFPGA内の経年劣化を影響を解析可能な再利用FPGA検出方法を紹介する。市販のFPGAを使用した実験により、本手法を用いることで、従来の方法では検出できない再利用FPGAを正しく識別できることを示す。

"Viewing Test Technology Trends from presentations at Recent Test Related Conferences"
畠山　一実　先生 (株式会社EVALUTO，群馬大学)

アブストラクト
テストを含む半導体技術の多くの分野では性能、消費電力、面積などの飽くなき要求が原動力となっている。これらの要求に応えるため、国際会議では多くのソリューションが発表されている。本発表では、この10年間のITCやVTSでの発表をもとに、テスト技術の動向を示し、次の10年間を展望する。

"STT-MRAM memory test system with an electromagnet"
田村　亮　様 (株式会社アドバンテスト)

アブストラクト
STT-MRAM(Spin-transfer-torque Magnetic Random Access Memory)は、MTJ(Magnetic Tunnel Junction)のフリー層の磁化方向を利用してデジタル情報を記憶するため、STT-MRAM試験では磁場の印加が必要である。本発表では、STT-MRAMのウェハレベルテスト用に開発した電磁石を備えた新しいメモリテストシステムについて紹介する。

"A Monolithic Integration of RRAM Array and Oxide Semiconductor FET for In-memory Computing in 3D Neural Network"
小林　正治　先生 (東京大学システムデザイン研究センター)

アブストラクト
RRAMアレイと酸化膜半導体アクセストランジスタを3Dスタックでモノリシックに集積し、各層の1T1Rセルの均一なメモリ特性を実現し、インメモリコンピューティングの基本機能を実証した。このアーキテクチャによって構築された3次元ニューラルネットワークは、面積効率の高い低消費電力・低遅延コンピューティングを実現する可能性を秘めている。

Session ３ - アドバンテストD2T寄附講座

"アドバンテストD2T寄附講座の活動報告"
肥後　昭男 (d.lab D2T寄附講座, 東京大学)

Closing

参加申込（参加費：無料）

D2T シンポジウムの歴史

過去の D2T シンポジウムのウェブページ

お問い合わせ

肥後昭男
東京大学 システムデザイン研究センター アドバンテストD2T寄附講座
〒113－0032　東京都文京区弥生2－11－16　武田先端知ビル404号室
Tel: 03-5841-0233 FAX: 03-5841-1093
E-mail: higo[at]if.t.u-tokyo.ac.jp

Systems Design Lab. (d.lab), School of Engineering, The University of Tokyo