東京大学VDEC 第9回 D2Tシンポジウム

2014年8月26日(火) 10:00-18:30
東京大学 武田先端知ビル 5階 武田ホール

(英語版, English version)


更新情報:

・シンポジウムは終了致しました。(2014/8/26)
・開催告知のポスターをリンクしました。(2014/7/22)
・講演のアブストラクトをリンクしました。(2014/7/10)
・参加登録の受付を開始しました。(2014/6/16)
・詳細プログラムを掲載しました。(2014/6/13)
・ホームページを開設しました。(2014/5/30)


シンポジウムの概要

主催 東京大学大規模集積システム設計教育研究センター (VDEC)
後援 株式会社アドバンテスト
協賛(予定) 一般社団法人 電子情報通信学会 (IEICE)
一般社団法人 情報処理学会 (IPSJ)
IEEE SSCS Japan Chapter
一般社団法人 電子情報技術産業協会 (JEITA)
SEMI ジャパン
一般社団法人 日本半導体製造装置協会 (SEAJ)
ナノテスティング学会 (INANOT)
一般社団法人 パワーデバイス・イネーブリング協会 (PDEA)
参加費 無料

主催者より:

東京大学大規模集積システム設計教育研究センターでは、株式会社アドバンテストからの寄附による「アドバンテストD2T寄附研究部門」において、"D2T (Design-to-Test)"の理念に基づき、「設計」と「テスト」の橋渡しを目的とした研究・教育活動を行なっています。 その一環として開催して参りました「D2Tシンポジウム」も、おかげさまで9回目を数えることとなりました。
本シンポジウムのテーマは "System, Circuit, and Testing of Ultra-Low Voltage VLSI" として、LSIの低電圧動作に関する回路設計、テスト技術などの分野で活躍している国内外の研究者による講演、本寄付研究部門からの活動報告、講演者によるパネルディスカッションなどを行います。
招待講演には UCLA のAsad A. Abidi 教授、Karlsruhe Institute of Technology の Mehdi B. Tahoori 教授、東京大学の平本俊郎教授、ST Microelectronics のPhilippe Roche 氏、超低電圧デバイス技術研究組合(LEAP)の杉井信之氏の5名の研究者をお招きし、さらに関連分野から3件の講演を行います。 また、"FD SOI for analog-digital compatibility in ultra-low voltage era" と題したパネルディスカッションを企画しています。
回路設計からテスト技術まで幅広い分野の皆様を対象として、それぞれの分野での知識の深化と他の技術領域への広範な理解につながるシンポジウムを目指しております。 多くの皆様の御参加をお待ち申し上げております。


シンポジウムプログラム (英語版, English version)

10:00 開会の挨拶
10:15 VDECアドバンテストD2T寄附研究部門の活動紹介
10:25 Session 1
Phase Noise and Jitter in Circuits: Origins, and How They Affect Signals [Invited]
Asad A. Abidi (University of California, Los Angeles)
Numerical and Theoretical Analysis on Voltage and Time Domain Dynamic Range of Scaled CMOS Circuits
Toru Nakura (The University of Tokyo)
A Subsampling Stochastic Coarse-Fine ADC with SNR 55.3dB and >5.8TS/s Effective Sample Rate for an on-Chip Signal Analyzer
Takahiro J. Yamaguchi (Advantest Laboratories)
12:00 昼食
13:15 Session 2
Present Status of Characteristics Variability in Advanced MOSFETs [Invited]
Toshiro Hiramoto (The University of Tokyo)
Process and Design Differentiations at Ultra-Low-Voltage in UTBB FDSOI 28nm [Invited]
Philippe Roche (ST Microelectronics)
Ultralow-Voltage Design and Technology of Silicon-on-Thin-Buried-Oxide (SOTB) CMOS for Highly Energy Efficient Electronics in IoT Era [Invited]
Nobuyuki Sugii (Low-power Electronics Association & Project)
15:15 休憩
15:45 Session 3
Cross-Layer Approaches for Variation-aware System Design [Invited]
Mehdi B. Tahoori (Karlsruhe Institute of Technology)
30-Gb/s Optical and Electrical Test Solution for High-Volume Testing
Daisuke Watanabe (Advantest Corporation)
16:50 休憩
17:00 Panel Discussion
Theme: FD SOI for analog-digital compatibility in ultra-low voltage era
18:20 閉会
18:30 懇親会

参加申込(参加費:無料)

こちらからお申し込みください。
本シンポジウムは終了いたしました。


アクセス方法

こちらをご覧ください。


お問い合わせ

東京大学 大規模集積システム設計教育研究センター アドバンテストD2T寄附研究部門
〒113−0032 東京都文京区弥生2−11−16 武田先端知ビル404号室
Tel: 03-5841-0233 FAX: 03-5841-1093
E-mail: ikeno@vdec.u-tokyo.ac.jp


VLSI Design and Education Center (VDEC), The University of Tokyo