東京大学VDEC 第10回 D2Tシンポジウム

2015年8月21日(金)
東京大学 武田先端知ビル 5階 武田ホール

(英語版, English page)


更新情報:

・本シンポジウムは終了致しました。ありがとうございました。(2015/8/21)
・講演のアブストラクトを掲載しました。(2015/7/27)
・プログラムを更新しました。(2015/7/3)
・シンポジウムの参加受付を開始しました。(2015/6/15)
・プログラムを掲載しました。(2015/6/15)
・ホームページを開設しました。(2015/5/22)


シンポジウムの概要

主催 東京大学大規模集積システム設計教育研究センター (VDEC)
後援 株式会社アドバンテスト
協賛 一般社団法人 電子情報通信学会 (IEICE)
一般社団法人 情報処理学会 (IPSJ)
IEEE SSCS Japan Chapter
応用物理学会 集積化MEMS技術研究会
ナノテスティング学会 (INANOT)
一般社団法人 電子情報技術産業協会 (JEITA)
SEMI ジャパン
一般社団法人 パワーデバイス・イネーブリング協会 (PDEA)
参加費 無料

主催者より:

東京大学大規模集積システム設計教育研究センターでは、株式会社アドバンテストからの寄附による「アドバンテストD2T寄附研究部門」において、"D2T (Design-to-Test)"の理念に基づき、「設計」と「テスト」の橋渡しを目的とした研究・教育活動を行なっています。 その一環として開催して参りました「D2Tシンポジウム」も、おかげさまで節目となる第10回の開催を迎えました。
今回は "Reliability for automotive and other applications" をテーマに、 半導体とその応用分野の高信頼性に関する国内外の著名な研究者・技術者による講演、本寄付研究部門からの活動報告、講演者によるパネルディスカッションなどを行います。
招待講演には Stanford University のSubhasish Mitra 教授、Karlsruhe Institute of Technology の Mehdi B. Tahoori 教授、TU Wien の Tibor Grasser 教授、東芝・JEITA の瀬戸屋孝様の4名をお招きし、さらに東大VDECによる最新の研究成果の発表を3件行います。 また、シンポジウムテーマに関連するパネルディスカッションを企画しています。
デバイス・回路設計からテスト技術、さらにはシステム、ソフトウェアに至るまで幅広い分野の皆様を対象として、それぞれの分野での知識の深化と他の技術領域への広範な理解につながるシンポジウムを目指しております。 多くの皆様の御参加をお待ち申し上げております。


シンポジウムプログラム (英語版, English version)

10:00 開会
10:15 セッション 1
車載用半導体集積回路の高信頼性化と工程管理手法 [Invited]
瀬戸屋孝 (東芝、JEITA)
Cross-layer Resilient Design for Automotive Electronics [Invited]
Mehdi B. Tahoori (Karlsruhe Institute of Technology)
11:45 昼食
13:00 セッション 2
Robust Systems: Overcoming Complexity and Reliability Challenges [Invited]
Subhasish Mitra (Stanford University)
Advanced Modeling and Characterization of Bias Temperature Instabilities and Hot Carrier Degradation [Invited]
Tibor Grasser (TU Wien)
14:30 休憩
15:00 セッション 3
VDECアドバンテストD2T寄附研究部門の活動紹介
池野理門 (東京大学VDEC)
FET-R-C Circuits: A Unified Treatment
飯塚哲也 (東京大学VDEC)
A Novel Circuit for Transition-Edge Detection
山口 隆弘 (株式会社アドバンテスト研究所)
Dynamic Power Integrity Control of ATE for Eliminating Overkills and Underkills
石田 雅裕 (株式会社アドバンテスト)
16:25 休憩
16:40 パネルディスカッション
Theme: Reliability / dependability of industrial standards for automotive systems
Moderator: Masahiro Fujita (The University of Tokyo)
Panelists: Tomohiro Yoneda (National Institute for Informatics), Takao Futagami (Toyo Corporation), Mehdi B. Tahoori (Karlsruhe Institute of Technology)
18:00 閉会
懇親会

参加申込(参加費:無料)

本シンポジウムは終了いたしました。


アクセス方法

こちらをご覧ください。


お問い合わせ

池野理門
東京大学 大規模集積システム設計教育研究センター アドバンテストD2T寄附研究部門
〒113−0032 東京都文京区弥生2−11−16 武田先端知ビル404号室
Tel: 03-5841-0233 FAX: 03-5841-1093
E-mail: ikeno[at]vdec.u-tokyo.ac.jp


VLSI Design and Education Center (VDEC), The University of Tokyo